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Wenzel Crystal特殊的測試要求及原理分析
Wenzel Crystal特殊的測試要求及原理分析
具有壓電效應(yīng)晶振是一種比較復(fù)雜的電子元器件,不止是因?yàn)樗念愋投嗪托吞柖?/span>,研發(fā)和制造一顆完整的石英晶振的步驟和技術(shù)非常的多,而且大多要求比較嚴(yán)格.因?yàn)榫w是對產(chǎn)品非常重要的一種元器件,如果質(zhì)量存在問題,會導(dǎo)致產(chǎn)品使用不正常,將會是很大的損失.通常,制造商會對精密振蕩器進(jìn)行單獨(dú)測試,以測試其在時間和溫度范圍內(nèi)的頻率漂移,輸出電平和雜散信號,相位噪聲(如果指定),調(diào)諧范圍和預(yù)熱特性,可以針對各種要求執(zhí)行其他測試,包括:
沖擊和振動測試:
經(jīng)常對單元進(jìn)行測試,以確保其在殘酷環(huán)境中的生存能力,并確定存在振動時的性能下降.指定的振動通常是隨機(jī)的,表示為功率譜密度,但偶爾會調(diào)用正弦振動.Wenzel晶振具有內(nèi)部測量振動引起的相位噪聲的能力.
高度和空間測試:
可以在真空室中測試振蕩器,以確定低壓的不利影響以及相應(yīng)的導(dǎo)熱系數(shù)下降.Wenzel Associates具有內(nèi)部能力,可以在溫度低至10微托的情況下測試小型石英晶體振蕩器.
熱沖擊:
振蕩器通常在沒有施加動力來發(fā)現(xiàn)機(jī)械缺陷的情況下會經(jīng)受幾次極端溫度波動,烤箱振蕩器,尤其是燒瓶絕緣設(shè)計(jì),在一定程度上不受熱沖擊的影響,因?yàn)榭鞠渫ǔ＞哂酗@著的熱質(zhì)量,可以很好地與周圍環(huán)境隔離.因此,如果測試執(zhí)行得太快,很多有源晶振電路可能不會看到快速的溫度變化甚至極端溫度,熱沖擊測試還可以包含啟動測試,以確保振蕩器在極端溫度下啟動.
輻射硬度:
進(jìn)入太空的振蕩器可能會遇到大量輻射,通常,輻射測試很難完成,或者,振蕩器是根據(jù)準(zhǔn)則設(shè)計(jì)的.需要使用掃頻石英晶體,并對設(shè)計(jì)進(jìn)行分析以查看晶體管β明顯降低和高漏電流的不利影響.避免使用許多組件類型,并添加了限流電阻器以防止損壞輻射感應(yīng)電流.
輻射和傳導(dǎo)發(fā)射:
輻射的發(fā)射可以由專門配備的實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行測試,但是這些測試通常是在完整的儀器而不是單個組件上進(jìn)行的.使用頻譜分析儀和一些其他組件可以輕松進(jìn)行傳導(dǎo)發(fā)射,由于大多數(shù)精密振蕩器都密封在金屬外殼中,因此傳導(dǎo)發(fā)射測試足以確定RF泄漏的水平.
特殊要求是對聲噪場,磁場,溫度甚至環(huán)境光的敏感性最小,每個貼片振蕩器的測試數(shù)據(jù)可能從簡單的屬性表到帶有支持文檔和組件的完整測試過程.
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